2001年 7月 3日 | ||||
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オリンパス光学工業株式会社(社長:菊川 剛)は、光通信分野で使われる外径φ1~2mm程度の近赤外帯域光デバイスの表面反射率を直接測定できる「近赤外分光反射率測定機」の開発に成功し、今年度中に発売を予定しています。50μm(0.05mm)微小スポットにより、実際の光デバイスについて曲面・平面を問わず、反射防止コート等の表面反射率測定を非破壊で行なえます。 |
主な特長 | |
1. 微小な光デバイスの表面反射率測定が直接・非破壊で可能 | |
2. 近赤外波長帯域をカバー(波長範囲1050nm~1650nm) | |
3. 光デバイス裏面からの反射をカット | |
4. 簡単な操作で短い測定時間を実現 | |
5. 卓上サイズで省スペースを実現 | |
開発の背景 |
近年、光通信分野で使用される光デバイスは高度化・微小化が進み、長距離通信での光量ロスの削減など高効率化が要求されています。一方、高品質化の流れから個々の近赤外帯域光デバイスの精密な表面反射率測定ニーズが高まっています。 |
従来の反射率測定機では、曲面の測定が行なえないため実際の光デバイスを測定するのではなく、レンズコーティング工程で同時にコーティングされた測定用平面ガラスを測定する方法しかなく、スポット径も数ミリ程度と広く、微小な光デバイスの表面反射率測定が行なえませんでした。また、測定には裏面の反射防止処理する必要があり、実際に使用する光デバイスの非破壊測定が困難でした。 |
このたびこれらの問題をクリアし、光通信分野で使われる近赤外帯域光デバイスの表面反射率測定にターゲットを絞った近赤外分光反射率測定機の開発に成功しました。当社は、1978年にカラーTVカメラ用カラーフィルタの顕微分光測光装置をはじめ、1985年から可視光での表面反射率測定に特化した分光反射率測定機「USPM-RU」を開発、販売しており、今回の開発に至りました。 |
また、社内生産ラインでのレンズコーティング評価による長年にわたる利用実績と、可視光帯域での分光反射率測定機の販売から得た測定ノウハウを活かし簡単な操作でスピーディーな測定が可能となっています。 |
主な特長の詳細 | |||
1. 微小な光デバイスの表面反射率測定が直接・非破壊で可能 | |||
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2. 近赤外波長帯域をカバー(波長範囲1050nm~1650nm) | |||
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3. 光デバイス裏面からの反射をカット | |||
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4. 簡単な操作で短い測定時間を実現 | |||
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5. 卓上サイズで省スペースを実現 | |||
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主な用途(光通信分野) |
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主な使用メーカー |
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主な仕様 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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オリンパス光学工業株式会社は、2003年10月1日をもってオリンパス株式会社と社名変更いたしました。
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