| 2002年 7月31日 | |||
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| 低接触圧機上測定機「nanoshape」 |
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| オリンパス光学工業株式会社（社長：菊川 剛）は、レンズ、金型表面の形状測定を自重傾斜方式※1の採用により接触型形状測定機として業界初の最低5mgf(重量ミリグラム)の低接触圧、測定分解能1nm(ナノメートル)以下を実現した低接触圧機上測定機「nanoshape（ナノシェイプ）」を開発し、国内の工作機械メーカーをターゲットに2002年12月から販売を開始する予定です。研削加工機等への組み込みに対応した仕様での供給により、レンズ、金型表面の形状測定と研削加工をオンマシンで行なえるため、着脱や測定環境の違いによる誤差を回避できます。 | ||||||||||||||||||||||||||||
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| 発売の概要 | ||||||||||||||||||||||||||||
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| 主な特長の概要 | ||||||||||||||||||||||||||||
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| 市場導入の背景 | ||||||||||||||||||||||||||||
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| 近年、デジタルカメラや光通信などの分野で使用される光学素子及びそれを成形するための金型は高精度化が進んでいます。一方、従来の接触型形状測定機では測定分解能のみならずレンズ、金型へのダメージ（きず）が指摘されていました。また、形状測定と研削加工がそれぞれ別の装置で行なわれているため、レンズ、金型の着脱や測定環境の違いによる誤差が避けられませんでした。
このたび、当社独自の自重傾斜方式を採用することで、業界で初めてレンズ、金型への接触圧を最低5mgfと最小限に抑え、ナノレベル（1nm以下）の測定分解能を有する低接触圧機上測定機「nanoshape」の開発に成功しました。また、研削加工機等への組み込みに対応した仕様での供給により、形状測定・研削加工工程間の誤差の発生を回避できます。 当社は、1997年頃から非接触型形状測定機であるレーザー干渉計の販売を開始し、今回の「nanoshape」をラインアップに加えることで、外販及び社内生産ラインへの導入によりさらに光学測定分野を強化してまいります。 |
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| 主な特長の詳細 | ||||||||||||||||||||||||||||
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| 主な仕様 | ||||||||||||||||||||||||||||
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オリンパス光学工業株式会社は、2003年10月1日をもってオリンパス株式会社と社名変更いたしました。
- 本リリースに掲載されている内容は、報道関係者向けに発表した情報です。
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