2002年12月16日

レンズ加工工程内の加工機の横で、手軽に迅速な検査が可能に 低価格・小型・簡単操作の小型LD干渉計「KIF-10A」

小型LD干渉計 KIF-10A

オリンパス光学工業株式会社 ( 社長：菊川 剛 ) は、近年小型化が進むデジタルカメラや銀塩カメラなどの小型レンズの表面形状を検査するために、低価格・小型・簡単操作を実現し、被検レンズを載せるだけで手軽に迅速な品質検査が行なえる小型LD*1干渉計*2「KIF-10A」を開発し、日本、アジアのレンズ加工工場をターゲットに2003年 1月20日から販売を開始します。

*1 LD：レーザダイオード（半導体レーザ）のこと。 *2 干渉計：光の波長を利用し、基準となる波面と被検波面とを重ね合わせ、光路差により生じた干渉縞を捉え、被検物の表面形状や収差を測定する装置。

発売の概要

製品名 発売時期 小型LD干渉計「KIF-10A」 2003年 1月20日

主な特長

手のひらサイズの小型・簡単操作を実現 低価格を実現 レンズを載せるだけで手軽、迅速に検査が可能

市場導入の背景

近年、デジタルカメラ、銀塩カメラ、ビデオカメラ、液晶プロジェクタなど情報機器の小型化に伴い、これらに使われるレンズも小型化が進んでいます。一方、レンズ加工は日本国内からアジア諸国とりわけ中国にシフトし、品質や歩留まり率向上が叫ばれる昨今、レンズ加工工程内で「作業者の誰もが手軽に迅速に検査できる装置」が望まれていました。

小型LD干渉計「KIF-10A」では、検査対象を小型レンズに絞り込むことで、装置本体の小型・簡単操作・低価格を実現しました。これにより、従来はレンズ加工工場内の加工工程1ラインに1台程度しか設置できなかった干渉計が、加工機1台あるいは作業者1人に1台設置することが可能になります。

当社は、1994年から小型レーザー干渉計の販売を開始し、普及機から高級機までラインアップを拡充してきました。今後は、測定対象の小型・高精度化に対応し、レーザ干渉計KIFシリーズの更なる充実を図っていきます。

主な特長の詳細

手のひらサイズの小型・簡単操作を実現 小型レンズを手軽に検査するというニーズに合った小型・簡単操作の干渉計を実現しました。これにより、従来はレンズ加工工場内の加工工程1ラインに1台程度しか設置できなかった干渉計が、加工機1台あるいは作業者1人に1台の設置が可能となります。 低価格を実現 小型化と目視検査専用の仕様に絞ることで、国内外のあらゆる工場で購入できるお求め易い価格を実現しました。 レンズを載せるだけで手軽、迅速に検査が可能 量産レンズの検査に最適な、被検レンズ上置き（アップワードタイプ）としたことで、専用レンズホルダに被検レンズを載せるだけで、手軽で迅速に品質検査が行なえます。このタイプは同一形状のレンズを繰り返し測定する時に、より威力を発揮します。 また、今後多品種少量レンズ検査のご要望に応えるために、被検レンズ下置き（ダウンワードタイプ）のラインアップも予定しています。

主な仕様

測定方法 フィゾー型干渉計 口径 φ25.4 mm（1インチ） 被検査物の大きさ R：±約140 mm 直径：±約110 mm 観察倍率 1倍 参照レンズ面精度 λ/15（球面及び平面） 光源 半導体レーザ ( 635 nm ) クラス2製品 レーザ出力 0.8mw 以下 電源 一次電源 AC100～240V 50/60Hz 本体供給電源 DC12V 本体外形寸法 90 ( W ) x 112 ( D ) x 185 ( H ) mm アップワードタイプでレーザ遮光板・突起部を含まず 本体質量 約 2kg 主なオプション群 3軸ステージ、2軸ステージ 小型液晶モニタ 参照レンズ F0.6・F0.7・F1.0・F1.5・F2.0・F3.0・F6.0・RF

本文の終わりです