2004年11月25日 | |||
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半導体検査顕微鏡 「MX61 / MX61L」 |
オリンパス株式会社 (社長:菊川 剛)は、色温度の最適化により、微妙な色変化を捕らえる事ができる明視野観察と、従来より飛躍的に検出感度を高めた暗視野観察など、光学基本性能を向上させながら、より多彩な観察方法に対応した半導体検査顕微鏡(200mmウェハ対応)「MX61」、及び300mmウェハ対応FPD※検査顕微鏡「MX61L」を2005年1月25日から新発売します。 |
なお、本製品は12月1日~3日、幕張メッセで開催される「セミコンジャパン2004」にて出展致します(オリンパスブースは国際展示場4ホール ブースNo.4B-1001)。 |
※ | 「Flat Panel Display」の略で、平面状の表示装置の総称。LCD(液晶ディスプレイ)やPDP(プラズマディスプレイ)等のディスプレイを指す。 | |
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主な特長 | |
1. | 光学基本性能の向上と、多彩な観察方法に対応 |
2. | 観察に必要な操作ボタン類を本体フロント部およびその周辺に集中配置 |
3. | 半導体・FPDの検査ニーズに応じた機能の最適化が可能 |
開発の背景 |
デジタル家電の研究・開発・設備投資の増加に伴い、半導体やFPDの研究開発・製造における検査の必要性が高まっています。1995年発売の半導体検査用顕微鏡「MX50」シリーズは、この業界のお客様から高い評価を得て参りました。このたび、「お客様へ最高の効率の提供」を設計思想とした2つのモデル「MX61 /MX61L」を新たに開発し、お客様の更なる使い勝手の良さ、よりストレスの少なく行える操作性を追求しました。 |
主な特長の詳細 | |
1. | 光学基本性能の向上と、多彩な観察方法に対応 |
色温度の最適化を行い抜けの良いクリアな明視野光学系と、平均7倍以上も明るさをアップした暗視野光学系により傷や欠陥を素早く検出できます。明視野・暗視野観察だけでなく、微分干渉・蛍光・近赤外観察など、1台で多彩な観察が可能です。 | |
2. | 観察に必要な操作ボタン類を本体フロント部およびその周辺に集中配置 |
観察に必要なほとんどの操作部をフロントパネルとその周辺に配置しました。特に、観察像のコントラストの決定に重要な役割を果たす「明るさ絞り(AS)」は、対物レンズの倍率や観察モードと連動して自動で最適化されるようになっています。また、対物レンズの倍率切換えや明るさ絞りの調整や光量調整も本体フロント部にて操作が行なえます。 | |
この連動ASやフロントオペレーションにより手の移動を最小限にすることでき、作業による疲労を軽減、効率を向上させます。 | |
3. | 半導体・FPDの検査ニーズに応じた機能の最適化が可能 |
FPD検査に必須の透過照明モジュールは高NA(開口数)タイプと汎用タイプの2種類を用意し、どちらもMX61/MX61Lに装着可能です。また、対物レンズの倍率変更を行なうレボルバー回転をスピードアップし、迅速で効率的な検査が可能になりました。 | |
また、安全性とエルゴノミーに関する半導体・FPD産業標準のSEMI S2 / S8に適合し、クリーンルーム対応を高めることにより、電子デバイスの最先端の研究・製造・品質管理の現場の効率化に寄与します。 | |
「MX61 / MX61L」の主な仕様 |
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